蔡司攜新的質(zhì)量控制檢驗(yàn)解決方案亮相IMTS 2018

Being sure是蔡司（ZEISS）在2018年IMTS(國(guó)際制造技術(shù)展)的工業(yè)計(jì)量主題，提供廣泛的定制質(zhì)量體系和支持。無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室，測(cè)量室還是在生產(chǎn)中，為了確保高效可靠的質(zhì)量保證流程，需要的不僅僅是檢測(cè)系統(tǒng)。無(wú)論是現(xiàn)在還是將來(lái)，客戶都需要一個(gè)擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的合作伙伴。從CT解決方案到CMM再到軟件，蔡司在IMTS的三個(gè)展臺(tái)中展示了幾個(gè)定制的解決方案：East Building, 135502(主展臺(tái))和135655 (ZEISS x射線解決方案)，以及North Building, Smartforce Student Summit, 215406。蔡司增材制造工藝與控制主管將于9月12日(星期三)上午11點(diǎn)至下午12點(diǎn)在West Building 192-A室的IMTS會(huì)議上展示3D打印工藝鏈的良率改進(jìn)。

ZEISS X射線解決方案

蔡司收購(gòu)了意大利X光供應(yīng)商Bosello HT的多數(shù)股權(quán)，為客戶提供更廣泛的CT解決方案。BOSELLO SRE MAX 2D工業(yè)輻射檢測(cè)系統(tǒng)將會(huì)在本次展會(huì)上展出，展示為汽車(chē)和航空航天工業(yè)提供的在線檢測(cè)解決方案。該技術(shù)提高了鋁鑄件檢驗(yàn)的質(zhì)量水平，將在ZEISS METROTOM上演示完整的內(nèi)部和外部零件透視的3D X射線CT測(cè)量結(jié)果。我們還將突出高分辨率3D X射線顯微鏡與蔡司Xradia Versa。

入門(mén)級(jí)至超精密級(jí)CMM

本次展覽將會(huì)展出廣泛的測(cè)量系統(tǒng)，包括蔡司CMM產(chǎn)品系列的最新產(chǎn)品MICURA坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。蔡司的MICURA坐標(biāo)測(cè)量機(jī)具有主動(dòng)掃描功能，能達(dá)到亞微米精度，是測(cè)量小型復(fù)雜零件的理想選擇，現(xiàn)在包括一個(gè)測(cè)量范圍更大的型號(hào)。新系統(tǒng)可以處理更大的零件，測(cè)量范圍擴(kuò)大40％，尺寸為500 x 700 x 500毫米，并配有機(jī)器安裝的控制器，可節(jié)省占地面積。ZEISS MICURA配備VAST XT金色或VAST XTR金色主動(dòng)掃描傳感器，角度特征最適合VAST XTR黃金傳感器。它的集成旋轉(zhuǎn)接頭使得測(cè)針系統(tǒng)能夠以15度的增量盡可能地旋轉(zhuǎn)，從而始終將測(cè)針置于被測(cè)特征的方向。

2 D和3 D測(cè)量

從2D輪廓投影儀到3D掃描儀，再到多傳感器CMMS，在蔡司主展臺(tái)可以找到各種各樣的光學(xué)解決方案?，F(xiàn)在，使用ZEISS O-INSPECT多傳感器坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，可以比以往更快地檢查敏感、反射或低對(duì)比度表面。我們將在ZEISS O-INSPECT CMM上演示新的ZEISS DotScan染色共聚焦白光傳感器。

蔡司DotScan傳感器可以根據(jù)需要更換，節(jié)省了大量時(shí)間，增加了靈活性。傳感器有三種尺寸，適用于不同的測(cè)量范圍:1毫米、3毫米和10毫米。在2018年11月，所有的ZEISS O-INSPECT多傳感器測(cè)量機(jī)系統(tǒng)都將采用新的傳感器接口標(biāo)準(zhǔn)。

Inline. Atline. Offline.

兩套機(jī)器人系統(tǒng)將放置在蔡司展臺(tái)的中心，讓與會(huì)者近距離了解最新的自動(dòng)化檢測(cè)解決方案。蔡司是汽車(chē)車(chē)身施工系統(tǒng)質(zhì)量保證的一站式合作伙伴，從測(cè)量檢測(cè)技術(shù)到夾具，再到質(zhì)量數(shù)據(jù)管理和服務(wù)。通過(guò)集成的ZEISS技術(shù)可以獲得最高的質(zhì)量和生產(chǎn)力。

粗糙度、輪廓及形狀檢查

形式和表面測(cè)量系統(tǒng)無(wú)縫集成到蔡司的工業(yè)測(cè)量技術(shù)中。有ZEISS ROTOS擁有各種獨(dú)立機(jī)器和專(zhuān)用于CMM的傳感器。新型傳感器可以使用CMM完全檢查表面波紋度和粗糙度 - 即使在復(fù)雜的工件上，所有這些都可以在一次測(cè)量運(yùn)行中完成而無(wú)需任何重新夾緊。這一尖端的創(chuàng)新簡(jiǎn)化和加快了在一個(gè)測(cè)量周期內(nèi)從圖紙中測(cè)量所有表面參數(shù)的過(guò)程。由于ZEISS ROTOS完全集成在CALYPSO (ZEISS測(cè)量軟件)中，因此對(duì)表面參數(shù)進(jìn)行編程既快速又簡(jiǎn)單。在ZEISS PiWeb報(bào)告中，表面粗糙度以及尺寸、形狀和位置可以在定制的專(zhuān)業(yè)顯示中進(jìn)行分析和可視化。一種新型的帶有一個(gè)大的觸摸屏的便攜式入門(mén)級(jí)表面粗糙度系統(tǒng)——SURFCOM TOUCH也將展出。

檢驗(yàn)、分析和報(bào)告

ZEISS CALYPSO是一款易于使用的計(jì)量軟件，它與ZEISS坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、光學(xué)系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)斷層掃描機(jī)等系列產(chǎn)品一起工作。無(wú)論應(yīng)用程序如何，都可以使用相同的工具和功能進(jìn)行檢查。CALYPSO 2018將在本次展會(huì)中展出，新版本將為超過(guò)100個(gè)客戶提供新的功能，進(jìn)一步提高他們的質(zhì)量檢測(cè)流程。內(nèi)置于CALYPSO 2018中PiWeb報(bào)告已經(jīng)增強(qiáng)了新的功能，為不斷增長(zhǎng)的光學(xué)產(chǎn)品線提供了更多用戶友好功能，提高了曲線測(cè)量和零件系列測(cè)試的效率，改進(jìn)了新特性計(jì)算。