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蔡司測量設(shè)備METROTOM

發(fā)布日期:2017-02-15 23:42  來源:卡爾蔡司(上海)管理有限公司
Metrotomography,融合了計量學(xué)和斷層X射線攝影法,開創(chuàng)了不可預(yù)期的可能性。在此之前只能檢測或根本不能進(jìn)行質(zhì)量保證的場合,現(xiàn)在可以進(jìn)行高精度和無損測量。

蔡司產(chǎn)品特點:

1)主要應(yīng)用于非接觸內(nèi)外部無損三維幾何量尺寸測量,材料結(jié)構(gòu)分析,缺陷檢測,裝配檢查,數(shù)模對比,逆向工程應(yīng)用等

2)面向幾何計量,科研,注塑,鋁壓鑄,汽車,醫(yī)療器械,包裝,電子消費品等廣泛的行業(yè)領(lǐng)域

3)適用于塑料,橡膠,硅膠,纖維,輕金屬等多種材料密度應(yīng)用要求

4)全面涵蓋了產(chǎn)品開發(fā)研發(fā),生產(chǎn)制造,品質(zhì)控制,材料與可靠性分析,抽檢溯源等檢測要求 
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