ZEISS ROTOS CMM粗糙度傳感器提高測量效率

即使是在復(fù)雜的工件上，新的ZEISS ROTOS粗糙度傳感器也可以使用坐標(biāo)測量儀來徹底檢查表面的波紋和粗糙度，所有的都在一個單獨(dú)的測量程序中，不需要任何部分的重新夾緊。這種最前沿的創(chuàng)新簡化并加速了在單個測量裝置中測量零件圖的所有表面參數(shù)。

ZEISS ROTOS傳感器使得可以在一臺機(jī)器上檢查尺寸、形狀、位置公差和粗糙度參數(shù)。現(xiàn)在可以在ZEISS PRISMO和ZEISS CenterMax坐標(biāo)測量機(jī)(CMM)上執(zhí)行操作，而不是要求單獨(dú)的觸控筆來捕獲更重要的形式偏差。利用CMM探測器上的接口，可以方便地交換傳感器。根據(jù)測量機(jī)和特定的觸控筆，用戶可以用新的傳感器捕捉到0.03微米的Ra粗糙度值。

創(chuàng)新的ZEISS ROTOS設(shè)計(jì)能檢查幾乎所有工件特性。三種可旋轉(zhuǎn)的、多個觸控筆臂，使得測量深孔和難以到達(dá)的表面成為可能。對ZEISS ROTOS來說，間接測量也不是問題。新特性包括用于測量封面粗糙度和波紋度的skidless styli。在ZEISS的CALYPSO測量軟件中，將表面粗糙度進(jìn)行了分析和可視化，并在ZEISS PiWeb報告軟件中顯示了尺寸、形狀和位置。

Zeiss CMM用戶可以受益于不再需要在分離的系統(tǒng)中進(jìn)行在線粗糙度測量，因?yàn)椴考梢栽趩蝹€設(shè)備中進(jìn)行檢查，從而消除了粗糙度測量系統(tǒng)和CMM之間的部分運(yùn)輸，使測量過程更快、更可靠、更靈活、更高效。