ZEISS ROTOS CMM粗糙度傳感器提高測量效率

即使是在復雜的工件上，新的ZEISS ROTOS粗糙度傳感器也可以使用坐標測量儀來徹底檢查表面的波紋和粗糙度，所有的都在一個單獨的測量程序中，不需要任何部分的重新夾緊。這種最前沿的創(chuàng)新簡化并加速了在單個測量裝置中測量零件圖的所有表面參數(shù)。

ZEISS ROTOS傳感器使得可以在一臺機器上檢查尺寸、形狀、位置公差和粗糙度參數(shù)?，F(xiàn)在可以在ZEISS PRISMO和ZEISS CenterMax坐標測量機(CMM)上執(zhí)行操作，而不是要求單獨的觸控筆來捕獲更重要的形式偏差。利用CMM探測器上的接口，可以方便地交換傳感器。根據(jù)測量機和特定的觸控筆，用戶可以用新的傳感器捕捉到0.03微米的Ra粗糙度值。

創(chuàng)新的ZEISS ROTOS設計能檢查幾乎所有工件特性。三種可旋轉的、多個觸控筆臂，使得測量深孔和難以到達的表面成為可能。對ZEISS ROTOS來說，間接測量也不是問題。新特性包括用于測量封面粗糙度和波紋度的skidless styli。在ZEISS的CALYPSO測量軟件中，將表面粗糙度進行了分析和可視化，并在ZEISS PiWeb報告軟件中顯示了尺寸、形狀和位置。

Zeiss CMM用戶可以受益于不再需要在分離的系統(tǒng)中進行在線粗糙度測量，因為部件可以在單個設備中進行檢查，從而消除了粗糙度測量系統(tǒng)和CMM之間的部分運輸，使測量過程更快、更可靠、更靈活、更高效。