CIMT2017：ZEISS CT METROTOM

幾何尺寸測量作為CT一重要應用分支，要求CT不僅需滿足常規(guī)探傷所需的要求，更重要的是，要求具備測量系統(tǒng)分辨率高、具有可追溯性并符合權威標準的測量精度、機械系統(tǒng)精度高等特點，稱其為工業(yè)CT坐標測量機，區(qū)別于常規(guī)三坐標測量機，其既可以實現(xiàn)外部尺寸測量，亦可實現(xiàn)內(nèi)部尺寸及形位公差量測評定。

隨著制造業(yè)的發(fā)展及工業(yè)要求的日益提升，工業(yè)CT坐標測量機現(xiàn)具有市場一致認可的先進性, ZEISS CT METROTOM通過采用坐標測量機關鍵高精度轉(zhuǎn)臺及導軌部件、核心的坐標測量控制技術、專利的坐標測量機CAA誤差補償技術、專利的幾何校正技術、完善的量值溯源系統(tǒng)等實現(xiàn)了CT與三坐標測量機的完美融合(專利)，確保長期可追溯性的測量精度。

蔡司METROTOM是基于CT傳感器的坐標測量機，其融合X射線計算機斷層掃描(CT)及三坐標測量機(CMM)的功能優(yōu)勢，廣泛適用于無損幾何尺寸測量、色差數(shù)模比對、無損內(nèi)部缺陷及裝配結構分析，其權威的可追溯性計量性能、核心的坐標測量機高精度部件、CAA誤差補償、自校準裝置及智能測量平臺等眾多技術優(yōu)勢，確保了系統(tǒng)的出色精度、多功能及長久穩(wěn)定性。

技術特色1：高精密機械系統(tǒng)

技術特色2：穩(wěn)定可靠的高性能CT傳感器系統(tǒng)

技術特色3：專利的METROTOM CAA自校準套件

技術特色4：符合權威標準并可追溯性測量精度

技術特色5：功能強大的軟件平臺