Metrologic創(chuàng)建增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)檢測(cè)解決方案 改變3D測(cè)量的視覺效果

Metrologic公司在最近的斯圖加特控制展會(huì)上展示了其沉浸式檢測(cè)技術(shù)的變化，并為3D檢驗(yàn)帶來了一種獨(dú)特的視覺效果。參觀者們有機(jī)會(huì)學(xué)習(xí)更多的知識(shí)，并體驗(yàn)到技術(shù)上的突破，這是連接數(shù)字混合現(xiàn)實(shí)世界和真實(shí)部分測(cè)量的橋梁。Metrolog X4增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)檢測(cè)解決方案使用微軟HoloLens設(shè)備上的全新X4 i-Holo產(chǎn)品。

Metrologic集團(tuán)開發(fā)的最新的X4內(nèi)核已經(jīng)集成了超過100個(gè)3D測(cè)量設(shè)備，Metrologic指出，向其廣泛的安裝基礎(chǔ)和技術(shù)熟練的市場(chǎng)提供更多的協(xié)作報(bào)告工具是有意義的。除了基于圖像、表格和完全交互式3D查看器的非常全面的報(bào)告之外，Metrologic集團(tuán)還希望提供一個(gè)基于混合現(xiàn)實(shí)的易于使用的結(jié)果查看協(xié)作工具。

一些基于投影的報(bào)告系統(tǒng)已經(jīng)允許將偏差的圖像投射到真實(shí)的部分，但是它需要一個(gè)固定的安裝或者一個(gè)復(fù)雜的跟蹤系統(tǒng)，并且需要很長(zhǎng)的設(shè)置時(shí)間。

Metrologic X4 i-Holo可以讓用戶混合測(cè)量結(jié)果，高亮顯示高偏差，并在操作員眼睛前面直接在真實(shí)的部分上使用實(shí)時(shí)全息圖來提供指令；數(shù)據(jù)由metrologx4實(shí)時(shí)發(fā)送到HoloLens。

X4 i-Holo結(jié)合交互式人機(jī)界面，支持注視跟蹤，語音激活和自動(dòng)重新定位，將計(jì)算結(jié)果與真實(shí)部分相結(jié)合。這允許用戶快速檢測(cè)被檢查部分的主要缺陷，并立即計(jì)劃在實(shí)際位置上進(jìn)行協(xié)作制造或工程審查。

Metrologic集團(tuán)總裁Bertrand Gili在介紹這一新發(fā)展時(shí)表示：“我們認(rèn)為這種新技術(shù)是未來幾年最具侵入性的發(fā)展之一。Metrologic公司的目標(biāo)是獨(dú)立于使用的設(shè)備或技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化檢驗(yàn)流程，為所有現(xiàn)有客戶和3D檢查用戶在工廠的任何地方進(jìn)行日常測(cè)量操作。世界各地的主要工業(yè)公司已經(jīng)采用了我們獨(dú)特的解決方案，作為一個(gè)強(qiáng)有力的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，使他們的3D檢驗(yàn)設(shè)備現(xiàn)代化，并改進(jìn)他們的制造工藝。”