NI基于PXI的測試系統(tǒng)降低了半導體自動化測試成本

這一基于平臺的開放式方法結合了模塊化儀器和系統(tǒng)設計軟件,為射頻和混合信號生產測試提供更好的解決方案
 

AUSTIN, Texas –2014年8月5日 – NIWeek－NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰(zhàn)的供應商，今日宣布推出NI半導體測試系統(tǒng)(STS)系列。這些基于PXI的自動化測試系統(tǒng)通過在半導體生產測試環(huán)境中引入NI和工業(yè)標準的PXI模塊降低了射頻和混合信號設備的測試成本。

與傳統(tǒng)半導體自動化測試設備(ATE)相比，STS前沿用戶正在獲益于降低的生產成本和提高的吞吐量，并且可使用相同的硬件和軟件工具中進行特征性測試和生產。這可以減少數據關聯(lián)的時間，進而縮短產品上市時間。
 

“隨著集成電路的復雜性呈指數增長，為從設計驗證到生產線末端測試等應用提供最佳測試覆蓋率的高成本效益ATE變得越來越重要，” 英飛凌科技股份公司的汽車車身動力產品資深設計和應用工程師Hans-Peter Kreuter博士表示，“對于混合信號測試，基于PXI的STS相比傳統(tǒng)ATE，以非常低的成本提供了最佳測試覆蓋率。”
 

STS的開放模塊化架構使得工程師能夠使用最前沿的PXI儀器，這是采用傳統(tǒng)具有封閉結構的ATE無法實現(xiàn)的。這對于RF和混合信號測試尤其重要，因為最新半導體技術要求的測試覆蓋率往往超越了傳統(tǒng)ATE所能提供的。STS結合了TestStand測試管理軟件和LabVIEW系統(tǒng)設計軟件，具有一組針對半導體生產環(huán)境的豐富功能，包括可定制的操作界面、分選機/探針集成、具有引腳-通道映射且以設備為中心的編程、標準測試數據格式報告以及集成式多點支持。有了這些功能，工程師可以快速開發(fā)、調試和部署測試程序，縮短總體上市時間。

此外，STS還具有全封閉的“零占用空間”測試頭、標準的連接和對接機制，可與半導體生產測試臺相集成。
 

“隨著測試系統(tǒng)不斷更新?lián)Q代，舊測試系統(tǒng)無法滿足新的測試需求，使用傳統(tǒng)的ATE系統(tǒng)需要不斷更換試驗車間的設備，從而導致高昂的成本，但STS的開放式PXI架構可以幫助我們保持原有的投資并在其基礎上進行擴展，而不是淘汰掉那些設備，”Integrated Device Technology (IDT)測試總監(jiān)Glen Peer表示，“它提供了我們需要的靈活性，使我們能夠根據不斷提高的性能需求重新配置和擴展我們的測試平臺。
”

STS系列包括三個不同的型號T1、T2和T4，分別可容納一個、兩個和四個PXI機箱。這些體積各異但卻具有相同軟件、儀器和互聯(lián)機制的系統(tǒng)使得工程師能夠針對各種引腳數和站點數需求進行優(yōu)化。此外，STS的可擴展性使其可部署到從特征性測試到生產測試等各個過程，不僅優(yōu)化了成本，而且大大簡化了數據的相關性，進而縮短了產品上市時間。